EM TIC 3X - Ionenstrahlätzsystem

Hochwertige Oberflächenverarbeitung für nahezu jedes Material Das Dreifach-Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X ermöglicht das Erstellen von Querschnitten und planen Oberflächen für die Rasterelektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy - SEM), Mikrostrukturanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) und AFM-Untersuchungen. Mit dem Leica EM TIC 3X produzieren Sie bei Raumtemperatur oder bei gefrorenen Proben aus fast jedem Material hochwertige Oberflächen, sodass die inneren Strukturen weitestgehend im ursprünglichen Zustand erhalten bleiben. Modell: Leica EM TIC 3X